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BOL
DIE
LEY

Microscopia electrónica de rastreo SEM-EDX (Scanning Electron Microscopy - Energy Dispersive X-ray spectroscopy)

Técnica donde el barrido de una muestra con un haz de electrones permite obtener imágenes, en blanco y negro, de alta resolución, por encima de 100.000 aumentos, que posibilitan estudiar detalles de su morfología. Se obtiene también el análisis elemental de la superficie.