Microscòpia electrònica de rastreig SEM-EDX (Scanning Electron Microscopy - Energy Dispersive X-ray spectroscopy)

Microscòpia electrònica de rastreig SEM-EDX (Scanning Electron Microscopy - Energy Dispersive X-ray spectroscopy)

Tècnica on l’escombrada d’una mostra amb un feix d’electrons permet obtenir imatges, en blanc i negre, d’alta resolució, per sobre de 100.000 augments, que possibiliten estudiar detalls de la seva morfologia. S’obté també l’anàlisi elemental de la superfície.